Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint IAPR International Workshops, S+SSPR 2022, Montreal, QC, Canada, August 26-27, 2022, Proceedings (Lecture Notes in Computer Science)

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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint IAPR International Workshops, S+SSPR 2022, Montreal, QC, Canada, August 26-27, 2022, Proceedings (Lecture Notes in Computer Science)

Krzyzak, Adam (EDT)/ Suen, Ching Y. (EDT)/ Torsello, Andrea (EDT)

ウェブストア価格 ¥27,030（本体¥24,573）
Springer International Publishing AG（2023/01発売）
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 324 p.
商品コード 9783031230271

Full Description

This book constitutes the proceedings of the Joint IAPR International Workshop on Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition, S+SSPR 2022, held in Montreal, QC, Canada, in August 2022.The 30 papers together with 2 invited talks presented in this volume were carefully reviewed and selected from 50 submissions.