Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip （2023）

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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip （2023）

Girard, Patrick (EDT)/ Blanton, Shawn (EDT)/ Wang, Li-C. (EDT)

ウェブストア価格 ¥21,540（本体¥19,582）
Springer International Publishing AG（2023/03発売）
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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 316 p.
商品コード 9783031196386

Full Description

This book provides a state-of-the-art guide to Machine Learning (ML)-based techniques that have been shown to be highly efficient for diagnosis of failures in electronic circuits and systems.