Thin Films : Processes and Characterization Techniques

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Thin Films : Processes and Characterization Techniques

Nedelcu, Nicoleta

ウェブストア価格 ¥41,674（本体¥37,886）
Springer International Publishing AG（2023/04発売）
外貨定価 US$ 199.99
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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 124 p.
言語 ENG
商品コード 9783031066153

Full Description

The book provides research scientists and engineers in industry information and data on the materials processing, characterization, and determination of materials' physical-chemical properties. The book highlights optical and chemical properties obtained on novel materials using a range of deposition methods by two different spectroscopic techniques: SE and UV-VIS-NIR. Emphasizing applications from across a number of domains including Healthcare, Opto-Electronic, and Defense, the book is ideal for academic researchers, graduate/undergraduate students, and practicing engineers concerned with optical coating technologies.

Chapter 1. Introduction.- Chapter 2. Thin layer method.- Chapter 3. Vacuum thin film deposition installation.- Chapter 4. Method for characterizing thin layer.- Chapter 5. Study of optical and chemical properties.