Design for Testability, Debug and Reliability : Next Generation Measures Using Formal Techniques

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Design for Testability, Debug and Reliability : Next Generation Measures Using Formal Techniques

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  • 製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 164 p.
  • 商品コード 9783030692087

Full Description

This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications.

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