Soft Error Reliability of VLSI Circuits : Analysis and Mitigation Techniques

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Soft Error Reliability of VLSI Circuits : Analysis and Mitigation Techniques

Ghavami, Behnam/ Raji, Mohsen

ウェブストア価格 ¥12,078（本体¥10,980）
Springer Nature Switzerland AG（2021/10発売）
外貨定価 US$ 54.99
ポイント 109pt

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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 114 p.
言語 ENG
商品コード 9783030516123

Full Description

Coverage includes novel Soft Error Rate (SER) analysis techniques such as process variation aware SER estimationand GPU accelerated SER analysis techniques, in addition to SER reduction methods such as gate sizing and logic restructuring based SER techniques.