Ageing of Integrated Circuits : Causes, Effects and Mitigation Techniques （2020）

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Ageing of Integrated Circuits : Causes, Effects and Mitigation Techniques （2020）

Halak, Basel (EDT)

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Springer Nature Switzerland AG（2019/10発売）
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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 228 p.
言語 ENG
商品コード 9783030237806
DDC分類 004.1

Full Description

This book provides comprehensive coverage of the latest research into integrated circuits' ageing, explaining the causes of this phenomenon, describing its effects on electronic systems, and providing mitigation techniques to build ageing-resilient circuits.

Chapter 1. Understanding Ageing Mechanisms.- Chapter 2. The Effects of Ageing on the reliability and performance of Integrated Circuits.- Chapter 3. Ageing Mitigation Techniques for Microprocessors using using Anti- Ageing Software.- Chapter 4. Ageing Mitigation Techniques for SRAM Memories.- Chapter 5. Ageing-aware Logic Synthesis.- Chapter 6. On-Chip Ageing Monitoring and System Adaptation.- Chapter 7. Aging Monitors for SRAM Memory Cells and Sense Amplifiers.- Chapter 8. A Cost-Efficient Aging Sensor based on Multiple Paths Delay Fault Monitoring.