Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics (Nanoscience and Technology)

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Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics (Nanoscience and Technology)

Celano, Umberto (EDT)

ウェブストア価格 ¥45,052（本体¥40,957）
Springer Nature Switzerland AG（2019/08発売）
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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 408 p.
言語 ENG
商品コード 9783030156114

Full Description

The tremendous impact of electronic devices on our lives is the result of continuous improvements of the billions of nanoelectronic components inside integrated circuits (ICs). This book reviews the latest progress in IC devices, with emphasis on the impact of electrical atomic force microscopy (AFM) techniques for their development.