Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies : Origin, Characterization, Control, and Device Impact (Springer Series in Materials Science)

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Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies : Origin, Characterization, Control, and Device Impact (Springer Series in Materials Science)

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  • 製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 438 p.
  • 言語 ENG
  • 商品コード 9783030067472

Full Description

material science, defect engineering, device processing, defect and device characterization, and device physics and engineering.

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