RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors (Electromagnetic Waves)

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RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors (Electromagnetic Waves)

Gao, Jianjun

ウェブストア価格 ¥30,085（本体¥27,350）
SciTech Publishing Inc（2010/06発売）
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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 350 p.
言語 ENG
商品コード 9781891121890
DDC分類 621.3815

Full Description

This book is an introduction to microwave and RF signal modeling and measurement techniques for field effect transistors. It assumes only a basic course in electronic circuits and prerequisite knowledge for readers to apply the techniques and improve the performance of integrated circuits, reduce design cycles and increase their chance at first time success. The first chapters offer a general overview and discussion of microwave signal and noise matrices, and microwave measurement techniques. The following chapters address modeling techniques for field effect transistors and cover models such as: small signal, large signal, noise, and the artificial neural network based.

Chapter 1: Introduction
Chapter 2: Representation of Microwave Two-Port Network
Chapter 3: Microwave and RF Measurement Techniques
Chapter 4: FET Small Signal Modeling and Parameter
Chapter 5: FET Nonlinear Modeling and Parameter Extraction
Chapter 6: Microwave Noise Modeling and Parameter
Chapter 7: Artificial Neural Network Modeling Technique for FET