Logic-timing Simulation and the Degradation Delay Model

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Logic-timing Simulation and the Degradation Delay Model

Bellido Diaz, Manuel Jesus/ Chico, Jorge Juan/ Valencia, Manuel

ウェブストア価格 ¥21,378（本体¥19,435）
Imperial College Press（2005/11発売）
外貨定価 US$ 104.00
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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 288 p.
言語 ENG
商品コード 9781860945892
DDC分類 003.3

基本説明

Contents: Degradation and Inertial Effects; CMOS Inverter Degradation Delay Model; Gate-Level DDM; and more.

Full Description

This book provides the reader with an extensive background in the field of logic-timing simulation and delay modeling. It includes detailed information on the challenges of logic-timing simulation, applications, advantages and drawbacks. The capabilities of logic-timing are explored using the latest research results that are brought together from previously disseminated materials. An important part of the book is devoted to the description of the "Degradation Delay Model", developed by the authors, showing how the inclusion of dynamic effects in the modeling of delays greatly improves the application cases and accuracy of logic-timing simulation. These ideas are supported by simulation results extracted from a wide range of practical applications.Sample Chapter(s)

# Fundamentals of Timing Simulation # Delay Models: Evolution and Trends # Degradation and Inertial Effects # CMOS Inverter Degradation Delay Model # Gate-Level DDM # Logic Level Simulator Design and Implementation # DDM Simulation Results # Accurate Measurement of the Switching Activity