Scanning Transmission Electron Microscopy of Nanomaterials: Basics of Imaging and Analysis

個数：

Scanning Transmission Electron Microscopy of Nanomaterials: Basics of Imaging and Analysis

Tanaka, Nobuo

ウェブストア価格 ¥49,295（本体¥44,814）
Imperial College Press（2014/10発売）
外貨定価 US$ 223.00
ポイント 448pt

提携先の海外書籍取次会社に在庫がございます。通常3週間で発送いたします。
【重要ご説明事項】
1. 納期遅延や、ご入手不能となる場合が若干ございます。
2. 複数冊ご注文の場合は、ご注文数量が揃ってからまとめて発送いたします。
3. 美品のご指定は承りかねます。

●3Dセキュア導入とクレジットカードによるお支払いについて

【入荷遅延について】
世界情勢の影響により、海外からお取り寄せとなる洋書・洋古書の入荷が、表示している標準的な納期よりも遅延する場合がございます。
おそれいりますが、あらかじめご了承くださいますようお願い申し上げます。

◆画像の表紙や帯等は実物とは異なる場合があります。

◆ウェブストアでの洋書販売価格は、弊社店舗等での販売価格とは異なります。
また、洋書販売価格は、ご注文確定時点での日本円価格となります。
ご注文確定後に、同じ洋書の販売価格が変動しても、それは反映されません。

製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 616 p.
言語 ENG
商品コード 9781848167896
DDC分類 502.825

Full Description

The basics, present status and future prospects of high-resolution scanning transmission electron microscopy (STEM) are described in the form of a textbook for advanced undergraduates and graduate students. This volume covers recent achievements in the field of STEM obtained with advanced technologies such as spherical aberration correction, monochromator, high-sensitivity electron energy loss spectroscopy and the software of image mapping. The future prospects chapter also deals with z-slice imaging and confocal STEM for 3D analysis of nanostructured materials.

Introduction; Historical Survey of Development of STEM; Basic Knowledge; Theories for ADF-STEM Image Simulation; Application of ADF-STEM Imaging to Nanomaterials Science; Fitting between STEM Images and the First Principles Structure Calculation; STEM/EELS Elemental Mapping; Three-Dimensional Tomographic Imaging by STEM; Scanning Confocal EM (SCEM); STEM Holography and Lorentz STEM; Future Prospects.