Recent Developments in Atomic Force Microscopy and Raman Spectroscopy for Materials Characterization

個数：

ポイントキャンペーン

Recent Developments in Atomic Force Microscopy and Raman Spectroscopy for Materials Characterization

Pathak, Chandra Shakher (EDT)/ Kumar, Samir (EDT)

ウェブストア価格 ¥32,241（本体¥29,310）
IntechOpen（2022/01発売）
外貨定価 US$ 155.00
【ウェブストア限定】洋書・洋古書ポイント5倍対象商品（～2/28）
ポイント 1,465pt

オンデマンド(OD/POD)版です。キャンセルは承れません。

【入荷遅延について】
世界情勢の影響により、海外からお取り寄せとなる洋書・洋古書の入荷が、表示している標準的な納期よりも遅延する場合がございます。
おそれいりますが、あらかじめご了承くださいますようお願い申し上げます。

◆画像の表紙や帯等は実物とは異なる場合があります。

◆ウェブストアでの洋書販売価格は、弊社店舗等での販売価格とは異なります。
また、洋書販売価格は、ご注文確定時点での日本円価格となります。
ご注文確定後に、同じ洋書の販売価格が変動しても、それは反映されません。

製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 274 p.
言語 ENG
商品コード 9781839682292
DDC分類 502.82

Full Description

This book contains chapters that describe advanced atomic force microscopy (AFM) modes and Raman spectroscopy. It also provides an in-depth understanding of advanced AFM modes and Raman spectroscopy for characterizing various materials. This volume is a useful resource for a wide range of readers, including scientists, engineers, graduate students, postdoctoral fellows, and scientific professionals working in specialized fields such as AFM, photovoltaics, 2D materials, carbon nanotubes, nanomaterials, and Raman spectroscopy.