透過電子顕微鏡の最前線：ナノ科学における画像法と回折（テキスト） Advanced Transmission Electron Microscopy : Imaging and Diffraction in Nanoscience

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透過電子顕微鏡の最前線：ナノ科学における画像法と回折（テキスト）
Advanced Transmission Electron Microscopy : Imaging and Diffraction in Nanoscience

Zuo, Jian Min/ Spence, John C.H.

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Springer-Verlag New York Inc.（2016/10発売）
外貨定価 UK£ 81.50
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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 729 p.
言語 ENG
商品コード 9781493966059
DDC分類 620

Full Description

As the title implies, the focus of the book has changed from electron microdiffraction and convergent beam electron diffraction to all forms of advanced transmission electron microscopy.