Circuit Design for Reliability

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Circuit Design for Reliability

Reis, Ricardo (EDT)/ Cao, Yu (EDT)/ Wirth, Gilson (EDT)

ウェブストア価格 ¥26,354（本体¥23,959）
Springer-Verlag New York Inc.（2016/09発売）
外貨定価 US$ 129.99
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 272 p.
言語 ENG
商品コード 9781493941568
DDC分類 621

Full Description

This book presents physical understanding, modeling and simulation, on-chip characterization, layout solutions, and design techniques that are effective to enhance the reliability of various circuit units. The authors provide readers with techniques for state of the art and future technologies, ranging from technology modeling, fault detection and analysis, circuit hardening, and reliability management.

Introduction.- Recent Trends in Bias Temperature Instability.- Charge trapping phenomena in MOSFETS: From Noise to Bias Temperature Instability.- Atomistic Simulations on Reliability.- On-chip characterization of statistical device degradation.- Circuit Resilience Roadmap.- Layout Aware Electromigration Analysis of Power/Ground Networks.- Power-Gating for Leakage Control and Beyond.- Soft Error Rate and Fault Tolerance Techniques for FPGAs.