Process Variations and Probabilistic Integrated Circuit Design （2012）

個数：

Process Variations and Probabilistic Integrated Circuit Design （2012）

Dietrich, Manfred (EDT)/ Haase, Joachim (EDT)

ウェブストア価格 ¥23,074（本体¥20,977）
Springer-Verlag New York Inc.（2014/01発売）
外貨定価 US$ 109.99
ポイント 209pt

提携先の海外書籍取次会社に在庫がございます。通常3週間で発送いたします。
【重要ご説明事項】
1. 納期遅延や、ご入手不能となる場合が若干ございます。
2. 複数冊ご注文の場合は、ご注文数量が揃ってからまとめて発送いたします。
3. 美品のご指定は承りかねます。

●3Dセキュア導入とクレジットカードによるお支払いについて

【入荷遅延について】
世界情勢の影響により、海外からお取り寄せとなる洋書・洋古書の入荷が、表示している標準的な納期よりも遅延する場合がございます。
おそれいりますが、あらかじめご了承くださいますようお願い申し上げます。

◆画像の表紙や帯等は実物とは異なる場合があります。

◆ウェブストアでの洋書販売価格は、弊社店舗等での販売価格とは異なります。
また、洋書販売価格は、ご注文確定時点での日本円価格となります。
ご注文確定後に、同じ洋書の販売価格が変動しても、それは反映されません。

製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 252 p.
言語 ENG
商品コード 9781489988607
DDC分類 621

Full Description

Uncertainty in key parameters within a chip and between different chips in the deep sub micron area plays a more and more important role. As a result, manufacturing process spreads need to be considered during the design process. Quantitative methodology is needed to ensure faultless functionality, despite existing process variations within given bounds, during product development.
This book presents the technological, physical, and mathematical fundamentals for a design paradigm shift, from a deterministic process to a probability-orientated design process for microelectronic circuits. Readers will learn to evaluate the different sources of variations in the design flow in order to establish different design variants, while applying appropriate methods and tools to evaluate and optimize their design.

Introduction.- Physical and Mathematical Fundamentals.- Examination of Process Parameter Variations.- Methods of Parameter Variations.- Consequences for Circuits Design and Case Studies.- Conclusion.