Face Recognition in Adverse Conditions

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Face Recognition in Adverse Conditions

Marsico, Maria De (EDT)/ Nappi, Michele (EDT)/ Tistarelli, Massimo (EDT)

ウェブストア価格 ¥47,646（本体¥43,315）
Idea Group,U.S.（2014/04発売）
外貨定価 US$ 235.00
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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 325 p.
言語 ENG
商品コード 9781466659667
DDC分類 153.758

Full Description

Facial recognition software has improved by leaps and bounds over the past few decades, with error rates decreasing significantly within the past ten years. Though this is true, conditions such as poor lighting, obstructions, and profile-only angles have continued to persist in preventing wholly accurate readings.

Face Recognition in Adverse Conditions examines how the field of facial recognition takes these adverse conditions into account when designing more effective applications by discussing facial recognition under real world PIE variations, current applications, and the future of the field of facial recognition research. The work is intended for academics, engineers, and researchers specializing in the field of facial recognition.