Helium Ion Microscopy : Principles and Applications (Springerbriefs in Materials) （2013）

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Helium Ion Microscopy : Principles and Applications (Springerbriefs in Materials) （2013）

Joy, David C.

ウェブストア価格 ¥12,155（本体¥11,050）
Springer-Verlag New York Inc.（2013/09発売）
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 64 p.
言語 ENG
商品コード 9781461486596
DDC分類 620

Full Description

Helium Ion Microscopy: Principles and Applications describes the theory and discusses the practical details of why scanning microscopes using beams of light ions - such as the Helium Ion Microscope (HIM) - are destined to become the imaging tools of choice for the 21st century.