Research Perspectives and Case Studies in System Test and Diagnosis (Frontiers in Electronic Testing)

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Research Perspectives and Case Studies in System Test and Diagnosis (Frontiers in Electronic Testing)

Sheppard, John W. (EDT)/ Simpson, William R. (EDT)

ウェブストア価格 ¥35,662（本体¥32,420）
Springer-Verlag New York Inc.（2012/10発売）
外貨定価 US$ 169.99
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 232 p.
言語 ENG
商品コード 9781461375357
DDC分類 621

Full Description

The works included in this volume are an outgrowth of the 2nd International Workshop on System Test and Diagnosis held in Alexandria, Virginia in April 1998. In this volume, a select group of workshop participants was invited to provide a chapter that expanded their workshop presentations and incorporated their workshop interactions...