Advances in X-Ray Analysis : Volume 28

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Advances in X-Ray Analysis : Volume 28

Barrett, Charles S. (EDT)/ Predecki, Paul K. (EDT)

ウェブストア価格 ¥12,001（本体¥10,910）
Springer-Verlag New York Inc.（2011/10発売）
外貨定価 US$ 54.99
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 408 p.
言語 ENG
商品コード 9781461294993
DDC分類 520

Full Description

The 33rd Annual Denver Conference on Applications of X-Ray Analysis was held July 30-August 3. Following the recent tradition of alternating plenary lecture topics between X-ray diffraction and X-ray fluorescence at the confer ence. Total reflectance X-ray spectrometry takes advantage of con sideration of the geometry of the X-ray optics.