An Artificial Intelligence Approach to Test Generation (The Springer International Series in Engineering and Computer Science)

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An Artificial Intelligence Approach to Test Generation (The Springer International Series in Engineering and Computer Science)

Singh, Narinder

ウェブストア価格 ¥24,313（本体¥22,103）
Springer-Verlag New York Inc.（2011/10発売）
外貨定価 US$ 109.99
ポイント 221pt

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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 194 p.
言語 ENG
商品コード 9781461291831
DDC分類 621

Full Description

I am indebted to my thesis advisor, Michael Genesereth, for his guidance, inspiration, and support which has made this research possible. This research was supported by Schlumberger Palo Alto Research (previously Fairchild Laboratory for Artificial Intelligence).