From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss : Simulation and Applications (Frontiers in Electronic Testing) （Reprint）

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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss : Simulation and Applications (Frontiers in Electronic Testing) （Reprint）

Khare, Jitendra B./ Maly, Wojciech

ウェブストア価格 ¥23,538（本体¥21,399）
Springer Verlag（2012/07発売）
外貨定価 US$ 109.99
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 168 p.
言語 ENG
商品コード 9781461285953
DDC分類 621

Full Description

Given such a high level of investment, it is critical for IC manufacturers to reduce manufacturing costs and get a better return on their investment. The most obvious method of reducing the manufacturing cost per die is to improve manufacturing yield.