Built-In-Self-Test and Built-In-Self Calibration (Springerbriefs in Electrical and Computer Engineering)

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Built-In-Self-Test and Built-In-Self Calibration (Springerbriefs in Electrical and Computer Engineering)

Bou-sleiman, Sleiman/ Ismail, Mohammed

ウェブストア価格 ¥11,226（本体¥10,206）
Springer Verlag（2011/09発売）
外貨定価 US$ 54.99
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 100 p.
言語 ENG
商品コード 9781441995476
DDC分類 621

Full Description

This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs). These circuits are used in current and emerging communication, computing, multimedia and biomedical products and microchips. The design methodologies presented will result in enhancing the yield (percentage of working chips in a high volume run) of RF and mmWave ICs which will enable successful manufacturing of such microchips in high volume.

Introduction and Motivation.- Radio Systems Overview: Architecture, Performance and Built-in-Test.- Efficient Testing for RF SoCs.- RF Built-in-Self-Test.- RF Built-in-Self-Calibration.- Conclusions.