透過型電子顕微鏡のための試料調製ハンドブック（全２巻） Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy

透過型電子顕微鏡のための試料調製ハンドブック（全２巻）<br>Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy

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透過型電子顕微鏡のための試料調製ハンドブック（全２巻）
Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy

Ayache, Jeanne/ Beaunier, Luc/ Boumendil, Jacqueline

ウェブストア価格 ¥39,407（本体¥35,825）
Springer（2010/09発売）
外貨定価 UK£ 129.99
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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 670 p.
言語 ENG
商品コード 9781441960870
DDC分類 620

基本説明

The first volume: Methodology - covers general theoretical and practical aspects of the methodologies used for TEM analysis and observation of any sample. The second volume: Techniques - describes 14 different preparation techniques, including 22 detailed protocols for preparing thin slices for TEM analysis.

Full Description

This handbook is divided into two sections. The first covers theoretical and practical aspects, including the best preparative technique. The second part offers technical hints, including twenty-two detailed protocols for preparing thin slices for TEM analysis.