Fundamentals of Nanoscale Film Analysis : Fundamentals and Techniques

個数：

ポイントキャンペーン

Fundamentals of Nanoscale Film Analysis : Fundamentals and Techniques

Alford, Terry L./ Feldman, L. c./ Mayer, James W.

ウェブストア価格 ¥21,681（本体¥19,710）
Springer（2010/10発売）
外貨定価 US$ 99.99
【ウェブストア限定】洋書・洋古書ポイント5倍対象商品（～2/28）
ポイント 985pt

提携先の海外書籍取次会社に在庫がございます。通常3週間で発送いたします。
【重要ご説明事項】
1. 納期遅延や、ご入手不能となる場合が若干ございます。
2. 複数冊ご注文の場合は、ご注文数量が揃ってからまとめて発送いたします。
3. 美品のご指定は承りかねます。

●3Dセキュア導入とクレジットカードによるお支払いについて

【入荷遅延について】
世界情勢の影響により、海外からお取り寄せとなる洋書・洋古書の入荷が、表示している標準的な納期よりも遅延する場合がございます。
おそれいりますが、あらかじめご了承くださいますようお願い申し上げます。

◆画像の表紙や帯等は実物とは異なる場合があります。

◆ウェブストアでの洋書販売価格は、弊社店舗等での販売価格とは異なります。
また、洋書販売価格は、ご注文確定時点での日本円価格となります。
ご注文確定後に、同じ洋書の販売価格が変動しても、それは反映されません。

製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 350 p.
言語 ENG
商品コード 9781441939807
DDC分類 620

Full Description

It describes characterization techniques to quantify the structure, composition and depth distribution of materials with the use of energetic particles and photons.The book describes the fundamentals of materials characterization from the standpoint of the incident photons or particles which interrogate nanoscale structures.