Microscopy of Semiconductor Materials : Proceedings of the 15th Conference (Springer Proceedings in Physics) 〈Vol. 120〉

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Microscopy of Semiconductor Materials : Proceedings of the 15th Conference (Springer Proceedings in Physics) 〈Vol. 120〉

Cullis, A. (EDT)/ Midgley, P. (EDT)

ウェブストア価格 ¥48,010（本体¥43,646）
Springer（2008/09発売）
外貨定価 US$ 219.99
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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 588 p.
言語 ENG
商品コード 9781402086144
DDC分類 620

Full Description

In view of this scenario, the vital importance of transmission and scanning electron microscopy, together with X-ray and scanning probe approaches can immediately be seen. The conference featured developments in high resolution microscopy and nanoanalysis, including the exploitation of recently introduced aberration-corrected electron microscopes.