Applied Rasch Measurement: A Book of Exemplars : Papers in Honour of John P. Keeves (Education in the Asia-Pacific Region : Issues, Concerns and Prospects) / Alagumalai, S. (EDT)/ Curtis, D. D. (EDT)/ Hungi, N. (EDT)

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応用ラッシュ測定<br>Applied Rasch Measurement: A Book of Exemplars : Papers in Honour of John P. Keeves (Education in the Asia-Pacific Region : Issues, Concerns and Prospects) 〈Vol. 4〉

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応用ラッシュ測定
Applied Rasch Measurement: A Book of Exemplars : Papers in Honour of John P. Keeves (Education in the Asia-Pacific Region : Issues, Concerns and Prospects) 〈Vol. 4〉

Alagumalai, S. (EDT)/ Curtis, D. D. (EDT)/ Hungi, N. (EDT)

ウェブストア価格 ¥49,249（本体¥44,772）
Springer（2005/12発売）
外貨定価 US$ 219.99
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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 359 p.
言語 ENG
商品コード 9781402030727

基本説明

Presents applications of the Rasch method to the real world measurement problems.

Full Description

This book attempts to describe the underlying axioms of test theory, and, in particular, the concepts of objective measurement and the Rasch model, and then link theory to practice.