Data Modeling for Metrology and Testing in Measurement Science (Modeling and Simulation in Science, Engineering and Technology) / Pavese, F. (EDT)/ Forbes, A. B. (EDT)

計測学のためのデータモデリングと測定科学における実験<br>Data Modeling for Metrology and Testing in Measurement Science (Modeling and Simulation in Science, Engineering and Technology)

個数：

ポイントキャンペーン

計測学のためのデータモデリングと測定科学における実験
Data Modeling for Metrology and Testing in Measurement Science (Modeling and Simulation in Science, Engineering and Technology)

Pavese, F. (EDT)/ Forbes, A. B. (EDT)

アメリカ（US）から取り寄せる

ウェブストア価格 ¥48,010（本体¥43,646）
Birkhäuser（2009/01発売）
外貨定価 US$ 219.99
【ウェブストア限定】洋書・洋古書ポイント5倍対象商品（～2/28）
ポイント 2,180pt

提携先の海外書籍取次会社に在庫がございます。通常3週間で発送いたします。
【重要ご説明事項】
1. 納期遅延や、ご入手不能となる場合が若干ございます。
2. 複数冊ご注文の場合は、ご注文数量が揃ってからまとめて発送いたします。
3. 美品のご指定は承りかねます。

●3Dセキュア導入とクレジットカードによるお支払いについて

ドイツ（DK）から取り寄せる

ウェブストア価格 ¥25,515（本体¥23,196）
Birkhäuser（2009/01発売）
外貨定価 EUR 96.45
【ウェブストア限定】洋書・洋古書ポイント5倍対象商品（～2/28）
ポイント 1,155pt

提携先の海外書籍取次会社に在庫がございます。通常約3週間で発送いたします。
【重要ご説明事項】
1. 納期遅延や、ご入手不能となる場合が若干ございます。
2. 複数冊ご注文の場合は、ご注文数量が揃ってからまとめて発送いたします。
3. 美品のご指定は承りかねます。

●3Dセキュア導入とクレジットカードによるお支払いについて

【入荷遅延について】
世界情勢の影響により、海外からお取り寄せとなる洋書・洋古書の入荷が、表示している標準的な納期よりも遅延する場合がございます。
おそれいりますが、あらかじめご了承くださいますようお願い申し上げます。

◆画像の表紙や帯等は実物とは異なる場合があります。

◆ウェブストアでの洋書販売価格は、弊社店舗等での販売価格とは異なります。
また、洋書販売価格は、ご注文確定時点での日本円価格となります。
ご注文確定後に、同じ洋書の販売価格が変動しても、それは反映されません。

製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 505 p.／サイズ 111 illus.
言語 ENG
商品コード 9780817645922
DDC分類 513

基本説明

This book and companion DVD provide a comprehensive set of modeling methods for data and uncertainty analysis, taking readers beyond mainstream methods described in standard texts.

Full Description

The aim of this book is to provide, ?rstly, an introduction to probability and statistics especially directed to the metrology and testing ?elds and secondly, a comprehensive, newer set of modelling methods for data and uncertainty analysis that are generally not considered yet within mainstream methods.