Scanning Microscopy for Nanotechnology : Techniques and Applications

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Scanning Microscopy for Nanotechnology : Techniques and Applications

Zhou, Weilie (EDT)/ Wang, Zhong-Lin (EDT)

ウェブストア価格 ¥55,612（本体¥50,557）
Springer（2007/01発売）
外貨定価 US$ 249.99
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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 456 p.／サイズ 399 illus.
言語 ENG
商品コード 9780387333250

Full Description

Scanning electron microscopy (SEM) can be exploited not only for nanomaterials characterization but also integrated with new technologies for in-situ nanomaterials engineering and manipulation.