ナノスケール薄膜分析 Nanoscale Thin Film Analysis : Fundamentals and Techniques （2007. XX, 380 p. w. 100 figs.）

ナノスケール薄膜分析<br>Nanoscale Thin Film Analysis : Fundamentals and Techniques （2007. XX, 380 p. w. 100 figs.）

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ナノスケール薄膜分析
Nanoscale Thin Film Analysis : Fundamentals and Techniques （2007. XX, 380 p. w. 100 figs.）

Alford, Terry L/ Mayer, James W./ Feldman, L. C.

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springer（2007発売）
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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 380 p.／サイズ 100 illus.
言語 ENG
商品コード 9780387292601

基本説明

A comprehensive treatment of the major characterization techniques used to analyze thin films from the micro- to nanoscale. Incorporates the use of X-ray fluorescence (XRF) in thin film analysis.

Full Description

It describes characterization techniques to quantify the structure, composition and depth distribution of materials with the use of energetic particles and photons.The book describes the fundamentals of materials characterization from the standpoint of the incident photons or particles which interrogate nanoscale structures.