ナノスケール薄膜分析 Nanoscale Thin Film Analysis : Fundamentals and Techniques （2007. XX, 380 p. w. 100 figs.）

ナノスケール薄膜分析<br>Nanoscale Thin Film Analysis : Fundamentals and Techniques （2007. XX, 380 p. w. 100 figs.）

個数：

ナノスケール薄膜分析
Nanoscale Thin Film Analysis : Fundamentals and Techniques （2007. XX, 380 p. w. 100 figs.）

Alford, Terry L/ Mayer, James W./ Feldman, L. C.

ウェブストア価格 ¥25,636（本体¥23,306）
springer（2007発売）
外貨定価 US$ 109.99
ポイント 233pt

提携先の海外書籍取次会社に在庫がございます。通常3週間で発送いたします。
【重要ご説明事項】
1. 納期遅延や、ご入手不能となる場合が若干ございます。
2. 複数冊ご注文の場合は、ご注文数量が揃ってからまとめて発送いたします。
3. 美品のご指定は承りかねます。

●3Dセキュア導入とクレジットカードによるお支払いについて

【入荷遅延について】
世界情勢の影響により、海外からお取り寄せとなる洋書・洋古書の入荷が、表示している標準的な納期よりも遅延する場合がございます。
おそれいりますが、あらかじめご了承くださいますようお願い申し上げます。

◆画像の表紙や帯等は実物とは異なる場合があります。

◆ウェブストアでの洋書販売価格は、弊社店舗等での販売価格とは異なります。
また、洋書販売価格は、ご注文確定時点での日本円価格となります。
ご注文確定後に、同じ洋書の販売価格が変動しても、それは反映されません。

製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 380 p.／サイズ 100 illus.
言語 ENG
商品コード 9780387292601

基本説明

A comprehensive treatment of the major characterization techniques used to analyze thin films from the micro- to nanoscale. Incorporates the use of X-ray fluorescence (XRF) in thin film analysis.

Full Description

Modern science and technology, from materials science to integrated circuit development, is directed toward the nanoscale. From thin films to field effect transistors, the emphasis is on reducing dimensions from the micro to the nanoscale. Fundamentals of Nanoscale Film Analysis concentrates on analysis of the structure and composition of the surface and the outer few tens to hundred nanometers in depth. It describes characterization techniques to quantify the structure, composition and depth distribution of materials with the use of energetic particles and photons.

The book describes the fundamentals of materials characterization from the standpoint of the incident photons or particles which interrogate nanoscale structures. These induced reactions lead to the emission of a variety of detected of particles and photons. It is the energy and intensity of the detected beams that is the basis of the characterization of the materials. The array of experimental techniques used in nanoscale materials analysis covers a wide range of incident particle and detected beam interactions.

Included are such important interactions as atomic collisions, Rutherford backscattering, ion channeling, diffraction, photon absorption, radiative and nonradiative transitions, and nuclear reactions. A variety of analytical and scanning probe microscopy techniques are presented in detail.