電顕の物理的基礎 Physical Principles of Electron Microscopy （1st ed. 2005. Corr. 2nd printing）

電顕の物理的基礎<br>Physical Principles of Electron Microscopy （1st ed. 2005. Corr. 2nd printing）

個数：

ポイントキャンペーン

電顕の物理的基礎
Physical Principles of Electron Microscopy （1st ed. 2005. Corr. 2nd printing）

Egerton, R. F.

ウェブストア価格 ¥39,281（本体¥35,710）
Springer（2007発売）
外貨定価 US$ 179.99
【ウェブストア限定】洋書・洋古書ポイント5倍対象商品（～2/28）
ポイント 1,785pt

提携先の海外書籍取次会社に在庫がございます。通常3週間で発送いたします。
【重要ご説明事項】
1. 納期遅延や、ご入手不能となる場合が若干ございます。
2. 複数冊ご注文の場合は、ご注文数量が揃ってからまとめて発送いたします。
3. 美品のご指定は承りかねます。

●3Dセキュア導入とクレジットカードによるお支払いについて

【入荷遅延について】
世界情勢の影響により、海外からお取り寄せとなる洋書・洋古書の入荷が、表示している標準的な納期よりも遅延する場合がございます。
おそれいりますが、あらかじめご了承くださいますようお願い申し上げます。

◆画像の表紙や帯等は実物とは異なる場合があります。

◆ウェブストアでの洋書販売価格は、弊社店舗等での販売価格とは異なります。
また、洋書販売価格は、ご注文確定時点での日本円価格となります。
ご注文確定後に、同じ洋書の販売価格が変動しても、それは反映されません。

製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 202 p.／サイズ 122 illus.
言語 ENG
商品コード 9780387258003

基本説明

Introduces the theory and current practice of electron microscopy. Ideal for undergraduates and technologists with limited mathematical training; Leading author who received the Distinguished Physical Scientist Award of the Microscopical Society of America in 2004. Contents: Dedication.- Preface.- An Introduction to Microscopy.- Electron Optics.- The Transmission Electron Microscope.- TEM Specimens and Images.- and more.

Full Description

Scanning and stationary-beam electron microscopes have become an indespensible tool for both research and routine evaluation in materials science, the semiconductor industry, nanotechnology and the biological, forensic, and medical sciences.