Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems

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Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems

Chattopadhyay, Santanu

ウェブストア価格 ¥6,290（本体¥5,719）
CRC Press（2020/06発売）
外貨定価 US$ 29.99
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 118 p.
言語 ENG
商品コード 9780367607098
DDC分類 621.395

Full Description

This book aims to highlight the research activities in the domain of thermal-aware testing. Thermal-aware testing can be employed both at circuit level and at system level

Describes range of algorithms for addressing thermal-aware test issue, presents comparison of temperature reduction with power-aware techniques and include results on benchmark circuits and systems for different techniques

This book will be suitable for researchers working on power- and thermal-aware design and the testing of digital VLSI chips

1.VLSI Testing - An Introduction. 2.Circuit Level Testing. 3. Test Data Compression. 4. System-on-Chip Testing. 5. Network-on-Chip Testing.