Advances in Imaging and Electron Physics (Advances in Imaging and Electron Physics)

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Advances in Imaging and Electron Physics (Advances in Imaging and Electron Physics)

Hawkes, Peter W. (EDT)/ Hÿtch, Martin (EDT)

ウェブストア価格 ¥51,398（本体¥46,726）
Academic Press Inc（2019/07発売）
外貨定価 US$ 245.00
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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 320 p.
言語 ENG
商品コード 9780128174692
DDC分類 539.72112

Full Description

Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 211, merges two long-running serials, Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. The series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science, digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy and the computing methods used in all these domains.

1. Simulation of atomically resolved elemental maps with a multislice algorithm for relativistic electrons
Stephan Majert and Helmut Kohl
2. Reviewing the revised International System of Units (SI)
Joaquín Valdés
3. Electron energy loss spectroscopy in the electron microscope
Christian Colliex