電子光学の原理：応用幾何光学（第２版） Principles of Electron Optics, Volume 2 : Applied Geometrical Optics （2ND）

電子光学の原理：応用幾何光学（第２版）<br>Principles of Electron Optics, Volume 2 : Applied Geometrical Optics （2ND）

個数：

電子版価格
¥40,453

電子版あり

電子光学の原理：応用幾何光学（第２版）
Principles of Electron Optics, Volume 2 : Applied Geometrical Optics （2ND）

Hawkes, Peter W./ Kasper, Erwin

ウェブストア価格 ¥48,251（本体¥43,865）
Academic Press Inc（2017/12発売）
外貨定価 US$ 230.00
ポイント 438pt

提携先の海外書籍取次会社に在庫がございます。通常3週間で発送いたします。
【重要ご説明事項】
1. 納期遅延や、ご入手不能となる場合が若干ございます。
2. 複数冊ご注文の場合は、ご注文数量が揃ってからまとめて発送いたします。
3. 美品のご指定は承りかねます。

●3Dセキュア導入とクレジットカードによるお支払いについて

【入荷遅延について】
世界情勢の影響により、海外からお取り寄せとなる洋書・洋古書の入荷が、表示している標準的な納期よりも遅延する場合がございます。
おそれいりますが、あらかじめご了承くださいますようお願い申し上げます。

◆画像の表紙や帯等は実物とは異なる場合があります。

◆ウェブストアでの洋書販売価格は、弊社店舗等での販売価格とは異なります。
また、洋書販売価格は、ご注文確定時点での日本円価格となります。
ご注文確定後に、同じ洋書の販売価格が変動しても、それは反映されません。

製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 766 p.
言語 ENG
商品コード 9780128133699
DDC分類 537.56

Full Description

Principles of Electron Optics: Applied Geometrical Optics, Second Edition gives detailed information about the many optical elements that use the theory presented in Volume 1: electrostatic and magnetic lenses, quadrupoles, cathode-lens-based instruments including the new ultrafast microscopes, low-energy-electron microscopes and photoemission electron microscopes and the mirrors found in their systems, Wien filters and deflectors. The chapter on aberration correction is largely new. The long section on electron guns describes recent theories and covers multi-column systems and carbon nanotube emitters. Monochromators are included in the section on curved-axis systems.

The lists of references include many articles that will enable the reader to go deeper into the subjects discussed in the text.

The book is intended for postgraduate students and teachers in physics and electron optics, as well as researchers and scientists in academia and industry working in the field of electron optics, electron and ion microscopy and nanolithography.

PART VII - INSTRUMENTAL OPTICS
35. Electrostatic Lenses
36. Magnetic Lenses
37. Electron Mirrors, Low-energy-electron Microscopes and Photoemission Electron Microscopes, Cathode Lenses and Field-emisssion Microscopy
38. The Wien Filter
39. Quadrupole Lenses
40. Deflection Systems

PART VIII - ABERRATION CORRECTION AND BEAM INTENSITY DISTRIBUTION (CAUSTICS)
41. Aberration Correction
42. Caustics and their Applications

PART IX - ELECTRON GUNS
43. General Features of Electron Guns
44. Theory of Electron Emission
45. Pointed Cathodes without Space Charge
46. Space Charge Effects
47. Brightness
48. Emittance
49. Gun optics
50. Complete Electron Guns

PART X - SYSTEMS WITH A CURVED OPTIC AXIS
51. General Curvilinear Systems
52. Magnetic Sector Fields
53. Unified Theories of Ion Optical Systems