More How to Win at Aptitude Tests

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Healy, Liam

ウェブストア価格 ¥2,004（本体¥1,822）
Thorsons（2001/09発売）
外貨定価 US$ 9.99
ポイント 18pt

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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 224 p.
言語 ENG
商品コード 9780007112579
DDC分類 153.93

Full Description

A key guide to the latest developments in assessment and aptitude testing.

Aptitude tests - also known as psychometric or IQ tests - are being relied on more and more by employers, schools and colleges. This book clearly explains how to be prepared for every aspect of the aptitude tests as well as tips on handling follow-up interviews. It incorporates new graduate and managerial level tests, as well as up-to-date information on internet-based methods of selection. More How To Win At Aptitude Tests is an essential aid for anyone faced with an aptitude or psychometric test. Includes:

How to Boost your Numerical ability
• Improve your Verbal, Abstract and Spatial reasoning
• Increase your Speed and Accuracy.
• Answers are supplied for every test.

Healy explains how to best prepare for the test and what to expect from the session itself, as well as the follow-up/validation interview.