出版社内容情報
システムの安全性に直結する情報機器の最新イミュニティ規格にもとづき、基準をクリアする測定法のノウハウと実務ポイントを平易に解説
目次
はじめに
第１章 適用範囲と目的
第２章 引用規格
第３章 定義
第４章 イミュニティ試験要求事項
第５章 試験の適用
第６章 試験時の条件
第７章 性能判定基準
第８章 製品文書
表１：イミュニティ，きょう体ポート
表２：イミュニティ，信号ポート及び通信ポート
表３：イミュニティ，DC電源入力ポート
表４：イミュニティ，AC電源入力ポート
附属書Ａ 通信端末装置
附属書Ｂ 情報処理装置
附属書Ｃ ローカルエリアネットワーク（LAN）
附属書Ｄ プリンタ
附属書Ｅ 複写機
附属書Ｆ 自動預金支払機（ATM）
附属書Ｇ POS端末（POST）
引用規格の要点と解説
IEC61000-4-2 静電気放電イミュニティ試験
IEC61000-4-3 放射無線周波数電磁界イミュニティ試験
IEC61000-4-4 電気的ファストトランジェント／バーストイミュニティ試験
IEC61000-4-5 サージイミュニティ試験
IEC61000-4-6 無線周波数電磁界によって誘導された伝導妨害に対するイミュニティ
IEC61000-4-8 商用周波数磁界イミュニティ試験
IEC61000-4-11 電圧ディップ，短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験法
執筆者一覧
■監修
池田 哲夫 名古屋工業大学教授
■編集委員
山路 公紀 (株)日立製作所汎用コンピュータ事業部技術管理センタ
雨宮不二雄 日本電信電話(株)NTT生活環境研究所主幹研究員
澁谷 昇 拓殖大学工学部教授
■執筆者一覧
山路 公紀 (株)日立製作所汎用コンピュータ事業部技術管理センタ
大石 亮 キャノン(株)電子映像品質推進部部長
吉永 孝司 日本電気(株)デバイス評価技術研究所EMC技術センター主任
雨宮不二雄 日本電信電話(株)NTT生活環境研究所主幹研究員
田路 明 カシオ計算機(株)品質・環境技術センター安全技術室主事
谷 由紀夫 山武産業システム(株)品質保証部QA21／CE22グループマネージャー
澁谷 昇 拓殖大学工学部教授
奥住 俊樹 横河電機(株)コンポーネント事業部技術部部長
中川 稔也 (株)ノイズ研究所EMC相談室室長
服部 光男 日本電信電話(株)NTT東日本移行本部サービス運営部技術協力センタ担当部長
江口 次雄 (株)ノイズ研究所技術本部本部長
高橋 正信 オムロン(株)技術本部企画推進室担当係長
（敬称略・執筆順）
内容目次
第１章 適用範囲と目的〔山路公紀〕
第２章 引用規格〔山路公紀〕
第３章 定 義〔山路公紀〕
第４章 イミュニティ試験要求事項〔大石 亮〕
4.1 通 則
4.2 個別要求事項
4.2.1 静電気放電（ESD）
4.2.2 電気的ファストトランジェント（EFT）
4.2.3 連続無線周波妨害
4.2.3.1 連続放射妨害
4.2.3.2 連続伝導妨害
4.2.4 電源周波数磁界
4.2.5 サージ
4.2.6 電圧ディップおよび短時間停電
第５章 試験の適用〔大石 亮〕
第６章 試験時の条件〔吉永孝司〕
6.1 一般条件 37
6.2 個別条件（供試装置の動作モード等）
第７章 性能判定基準〔吉永孝司〕
7.1 一般性能判定基準
7.2 個別性能判定基準
第８章 製品文書〔吉永孝司〕
表 イミュニティ，きょう体ポート〔大石 亮〕
表２ イミュニティ，信号ポート及び通信ポート〔雨宮不二雄〕
表３ イミュニティ，DC電源入力ポート
（AC／DCアダプタを添付して販売する装置を除く）〔大石 亮〕
表４ イミュニティ，AC電源入力ポート
（別個のAC／DCアダプタを添付して販売する装置を含む）〔大石 亮〕
附属書Ａ（規格） 通信端末装置〔雨宮不二雄〕
A.1 アナログインタフェースを持つ通信端末装置（TTE）
A.1.1 個別試験条件
A.1.2 個別性能判定基準
A.2 デジタルインタフェースを持つ通信端末装置（TTE）
A.2.1 個別試験条件
A.2.2 性能判定基準
A.3 ファクシミリ
A.3.1 個別試験条件
A.3.2 個別性能判定基準
附属書Ｂ（規格） 情報処理装置〔吉永孝司〕
B.1 データの読み，書き，保存
B.1.1 個別試験条件
B.1.2 個別性能判定基準
B.2 データ表示
B.2.1 個別試験条件
B.2.2 個別性能判定基準
B.3 データ入力
B.3.1 個別試験条件
B.3.2 個別性能判定基準
B.4 データ印刷
B.4.1 個別試験条件
B.4.2 個別性能判定基準
B.5 データ処理
B.5.1 個別試験条件
B.5.2 個別性能判定基準
〈参考〉附属書Bの作成過程
附属書Ｃ（規格） ローカルエリアネットワーク（LAN）〔雨宮不二雄〕
C.1 個別試験条件
C.2 個別性能判定基準
附属書Ｄ（規格） プリンタ〔大石 亮〕
D.1 個別試験条件
D.2 個別性能判定基準
附属書Ｅ（規格） 複写機〔田路 明〕
E.1 個別試験条件
E.2 個別性能判定基準
附属書Ｆ（規格） 自動預金支払機（ATM）〔山路公紀〕
F.1 個別試験条件 105
F.2 個別性能判定基準 105
附属書Ｇ（規格） POS端末（POST）〔田路 明〕 108
G.1 個別試験条件
G.2 個別性能判定基準
国際規格（CISPR Publication24 第1版）と答申との比較〔山路公紀〕
引用規格の要点と解説
IEC61000-4-2 電磁両立性
第4部：試験及び測定技術
第2節：静電気放電イミュニティ試験〔谷由紀夫〕
1. 適用範囲
2. 引用規格
3. 一般事項
4. 用語の定義
5. 試験レベル
6. 試験発生器
6.1 ESD発生器の特性および性能
6.2 ESD発生器の特性の検証
7. 試験セットアップ
7.1 試験室で行う試験の試験セットアップ
7.2 設置後試験の試験配置
8. 試験手順
8.1 試験室の基準条件
8.2 供試装置の動作
8.3 試験の実施
9. 試験結果および試験レポート
附属書A（情報）：注釈
A.1 一般的考察
A.2 帯電レベルに対する環境条件の影響度
A.3 気中放電試験および接触放電試験と環境レベルの関係
A.4 試験レベルの選択
A.5 試験点の選択
A.6 接触放電法の使用に対する技術的な理論的基礎
A.7 ESD発生器内部素子定数の選択
附属書B（参考情報）：構造の詳細
IEC61000-4-3 電磁両立性
第4部：試験及び測定技術
第3節：放射無線周波数電磁界イミュニティ試験〔澁谷 昇〕
1. 適用範囲
2. 引用規格
3. 一般事項
4. 定 義
5. 試験レベル
6. 試験設備と装置
6.1 試験設備の説明
6.2 電界の校正
7. 試験時のセットアップ
7.1 卓上形装置のセットアップ
7.2 床置形装置のセットアップ
7.3 配線の処理
8. 試験手順
9. 試験結果および試験報告書
附属書A（参考）：携帯無線
附属書B（参考）：電界発生アンテナ
附属書C（参考）：電波無響室の利用
附属書D（参考）：その他の試験方法－TEMセル及びストリップライン
附属書E（参考）：その他の試験設備
附属書F（参考）：試験レベルの選択
附属書G（参考）：特別な措置
附属書H（参考）：試験方法の選定
IEC61000-4-4 電磁両立性
第4部：試験及び測定技術
第4節：電気的ファストトランジェント／バーストイミュニティ試験〔奥住俊樹〕
1. 適用範囲
2. 引用規格
3. 一般事項
4. 定 義
4.1 供試装置（EUT）
4.2 ポート（Port）
4.3 EFT／B
4.4 結合（coupling）
4.5 結合回路（coupling network）
4.6 減結合回路（decoupling network）
4.7 結合クランプ（coupling clamp）
4.8 （基準）グラウンド面（ground（reference）plane）
4.9 電磁両立性（electromagnetic compatibility（EMC））
4.10 イミュニティ（妨害に対する）（immunity（to a disturbance））
4.11 低下（性能の）（degradation（of performance））
4.12 過渡［トランジェント］（transient）
4.13 立ち上がり時間（rise time）
4.14 バースト（burst）
5. 試験レベル
6. 試験装置
6.1 試験発生器
6.2 AC／DC電源供給ポート用結合／減結合回路
6.3 容量性結合クランプ
7. 試験セットアップ
7.1 試験装置
7.2 試験室で実施する型式試験の試験セットアップ
7.3 設置後試験の試験セットアップ
8. 試験手順
8.1 試験室の基準条件
8.2 試験の実施
9. 試験結果と試験報告
附属書A（情報）：過渡バースト発生器の説明と試験レベルの選択
A.1 高速過渡／バースト発生器
A.2 試験レベルの選択
IEC61000-4-5 電磁両立性
第4部：試験及び測定技術
第5節：サージイミュニティ試験〔中川稔也〕
1. 適用範囲と目的
2. 引用規格
3. 一般事項
3.1 スイッチングトランジェント
3.2 雷の過渡現象
3.3 過渡現象のシミュレーション
4. 定 義
4.1 平衡ライン（balanced lines）
4.2 結合回路網（coupling network）
4.3 減結合回路網（decoupling network）
4.4 持続時間（duration time）
4.5 供試装置（EUT：equipment under test）
4.6 波頭長（front time）
4.7 イミュニティ（immunity）
4.8 電気設備（electrical installation）
4.9 相互接続線
4.10 1次保護（primary protection）
4.11 立上り時間（rise time）
4.12 2次保護（secondary protection）
4.13 サージ（surge）
4.14 システム（system）
4.15 波尾長（time to half value）T2
4.16 過渡現象（transient）
5. 試験レベル
6. 試験機器
6.1 コンビネーション波形（ハイブリッド）発生器（1.2/50μs－8/20μs）
6.2 ITU-T／旧CCITT規格による試験発生器（10/700μs）
6.3 結合／減結合回路
7. 試験のセットアップ
7.1 試験機器
7.2 供試装置の電源に重畳する試験のセットアップ
7.3 非シールド・不平衡動作の相互接続線に適用する試験のセットアップ
7.4 非シールド・平衡動作の相互接続線／通信線（図12）に重畳する試験のセットアップ
7.5 シールド線に印加する試験のセットアップ
7.6 電位差試験のセットアップ
7.7 他の試験のセットアップ
7.8 試験条件
8. 試験手順
8.1 試験室基準条件
8.2 試験室でのサージの印加
9. 試験結果および試験報告
附属書A（規定）：発生器および試験レベルの選択
附属書B（参考）：解説
B.1 サージ発生器の発生源インピーダンス
B.2 試験の適用
B.3 設置分類
附属書C（参考）：文献
IEC61000-4-6 電磁両立性
第4部：試験及び測定技術
第6節：無線周波数電磁界によって誘導された
伝導妨害に対するイミュニティ〔服部光男〕
1. 適用範囲
2. 引用規格
3. 一般事項
4. 用 語
5. 試験レベル
6. 試験装置
6.1 試験信号発生器
6.2 結合／減結合デバイス
6.3 結合／減結合デバイスのEUTポートにおけるコモンモードインピーダンスの確認
6.4 試験信号発生器の設定
7. 卓上形装置と床置形装置のための試験時のセットアップ
7.1 注入方法と試験点を選択するための規則
7.2 クランプ注入を適用する場合の手順
7.3 コモンモードインピーダンス要求条件が満たされない場合のクランプ注入のための手順
7.4 単一のユニットからなる供試装置
7.5 幾つかのユニットからなる供試装置
8. 試験手順
9. 試験結果及び試験報告書
附属書A（規定）：クランプ注入に関する付加情報
A.1 電流注入クランプ
A.2 EMクランプ
A.3 試験セットアップ
附属書B（参考）：印加周波数範囲の選択基準
附属書C（参考）：試験レベルを選択するための指針
附属書D（参考）：結合／減結合回路網に関する情報
D.1 結合／減結合回路網の基本的特徴
附属書E（参考）：試験信号発生器の仕様に関する情報
IEC61000-4-8 電磁両立性
第4部：試験及び測定技術
第8節：商用周波数磁界イミュニティ試験
（1993年第一版）〔江口次雄〕
1. 適用範囲
2. 引用規格
3. 一般事項
4. 用語の定義
4.1 EUT（Equipment Under Test）
4.2 誘導コイル（Induction coil）
4.3 誘導コイル係数（Induction coil factor）
4.4 投入法（Immersion method）
4.5 近接法（Proximity method）
4.6 基準大地面（Ground reference plane）GRP
4.7 減結合ネットワーク，バックフィルタ（Decupling network, back filter）
5. 試験レベル
6. 試験装置
6.1 試験発生器
6.2 誘導コイル
6.3 試験用及び補助用計測装置
7. 試験のセットアップ
7.1 基準大地面
7.2 供試装置
7.3 試験発生器
7.4 誘導コイル
8. 試験手順
8.1 試験室の基準条件
8.2 試験の実施
9. 試験結果及び試験報告書
附属書A（規格）：誘導コイルの校正方法
A.1 磁界の測定
A.2 誘導コイルの校正
附属書B（規格）：誘導コイルの特性
B.1 一般事項
B.2 誘導コイルへの要求事項
B.3 誘導コイルの特性
B.4 誘導コイルの特性のまとめ
附属書C（参考）：試験レベルの選択
附属書D（参考）：電源周波数磁界強度に関する情報
IEC61000-4-11 電磁両立性
第4部：試験及び測定技術
第11節：電圧ディップ，短時間停電及び
電圧変動に対するイミュニティ試験法〔高橋正信〕
1. 適用範囲
2. 引用規格
3. 一般事項
4. 用語の定義
5. 試験レベル
5.1 電圧ディップおよび短時間停電
5.2 電圧変動（任意）
6. 試験装置
6.1 試験発生器
6.2 ピーク突入電流駆動能力測定のための電流監視装置の特性
6.3 電 源
7. 試験セットアップ
8. 試験手順
8.1 試験室の標準条件
8.2 試験の実施
9. 試験結果と試験報告書
附属書A（規定）：試験回路の詳細
A.1 試験発生器のピーク突入電流駆動能力
A.2 供試機器のピーク突入電流要件
附属書B（参考）：試験レベル選択のためのガイド
附属書C（参考）：試験装置
