内容説明
結晶学の基礎知識として“晶系”、“点群（回転群）”および“空間群”を学び、その知識を使い、結晶中の原子やイオンによるＸ線や中性子線の散乱能を考慮して粉末回折結果を解析。
目次
第１章 直接観察法と間接法による結晶解析（透過型電子顕微法（Ｔｒａｎｓｍｉｓｓｉｏｎ Ｅｌｅｃｔｒｏｎ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｙ）
電界イオン顕微法（Ｆｉｅｌｄ Ｉｏｎ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｙ）
走査トンネル顕微法（Ｓｃａｎｎｉｎｇ Ｔｕｎｎｅｌｉｎｇ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｙ））
第２章 結晶学入門（結晶の次元性と分類；結晶系（晶系）
結晶方位と面指数 ほか）
第３章 回折現象（原子による散乱；トムソン散乱；原子散乱因子 ほか）
著者等紹介
梶谷剛［カジタニツヨシ］
１９７５東北大学大学院博士課程退学、同年学振奨励研究員。１９７６イリノイ大学博士研究員。１９７８アルゴンヌ国立研究所客員研究員。１９８０東北大学金属材料研究所助手。１９９０同所助教授。１９９３東北大学工学部教授。２０１２東北大学名誉教授。専門は熱電半導体、超伝導体、金属水素化合物、Ｘ線回折、中性子回折・散乱。１９８０工学博士（東北大学）（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）
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