目次
試料作製法（前処理）
マクロ観察技法（光学顕微鏡；ＳＥＭ ほか）
新型顕微（鏡）法（ＳＰＭ・ＡＦＭ；レーザ顕微鏡 ほか）
観察法（光学顕微鏡；ＥＤＳ・ＥＰＭＡ・ＥＢＳＤ ほか）
観察事例
付録（マクロ組織とミクロ組織）
著者等紹介
朝倉健太郎［アサクラケンタロウ］
東京大学大学院工学系研究科マテリアル工学専攻、工学博士。専門は超々臨界圧火力プラント・複層鋼板に関する研究開発、電子顕微鏡による各種構造材料および機能材料の構造解析
中村新一［ナカムラシンイチ］
青山学院大学理工学部附置機器分析センター技術主幹。専門は透過電子顕微鏡による各種構造材料・薄膜材料の微細構造解析およびその前処理技術開発
小倉一道［オグラカズミチ］
日本電子株式会社、ＳＭ事業ユニット、参事専門は走査電子顕微鏡（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）
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