内容説明
「総論」では概要、各手法の特徴と使い分けについて、「方法論」でPIXEや全反射蛍光X線などの先端的内容を、「応用編」は薄膜・半導体やユニークな物質への応用例を紹介するなど、全編を通してX線分析の最前線の情報を網羅した。分析技術者、材料研究者ばかりでなく、先進材料の現場においても必携の書。
目次
総論(新たな発展期を迎えたX線分析;X線分析の特徴と使い分け―なぜX線分析を使うのか)
方法論(全反射蛍光X線分析;蛍光X線の干渉現象;X線回折分析;イオン励起X線分析(PIXE) ほか)
応用編(半導体材料とX線分析;金属・無機材料とX線分析;有機・高分子材料とX線分析;カラーラウエ法による薄膜の構造解析 ほか)
著者等紹介
合志陽一[ゴウシヨウイチ]
1937年生。東京大学工学部応用化学科卒(工博)、国立環境研究所理事長。専門分野は工業分析化学
佐藤公隆[サトウキミタカ]
1937年生。東京理科大学理学部化学科卒(理博)、(株)日鉄テクノリサーチ。専門分野は表面分析、物理解析、材料科学(先進複合材料)
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