内容説明
パワーデバイス・イネーブリング協会半導体技術者検定エレクトロニクス３級、公式テキスト。
目次
序章 半導体の試験について
第１章 半導体の基礎（半導体物性；トランジスタの構造と動作原理 ほか）
第２章 半導体の品質保証（品質保証；信頼性基礎技術 ほか）
第３章 半導体製品の分類（デバイスタイプ；ロジックデバイス ほか）
第４章 半導体の試験項目（半導体試験装置によるデバイス試験の概要；ファンクション試験 ほか）
著者等紹介
浅田邦博［アサダクニヒロ］
東京大学名誉教授。１９７５年３月東京大学工学部電子工学卒業。８０年３月同大学院博士課程修了（工博）。８０年４月東京大学工学部任官。９５年同工学系研究科教授。９６年同大規模集積システム設計教育研究センター（ＶＤＥＣ）の設立に伴い同センターに異動、２０００年４月同センター長、１８年３月末に東京大学を退職。現在、武田計測先端知財団常任理事。この間、８５～８６年英国エディンバラ大学訪問研究員。９０～９２年電子情報通信学会英文誌エレクトロニクスエディタ。０１～０２年ＩＥＥＥ ＳＳＣＳ Ｊａｐａｎ Ｃｈａｐｔｅｒ Ｃｈａｉｒ。０５～０８年ＩＥＥＥ Ｊａｐａｎ Ｃｏｕｎｃｉｌ Ｃｈａｐｔｅｒ Ｏｐｅｒａｔｉｏｎ Ｃｈａｉｒ等々。専門は集積システム・デバイス工学（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）
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