残留応力のX線評価―基礎と応用

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残留応力のX線評価―基礎と応用

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  • サイズ A5判/ページ数 363p/高さ 21cm
  • 商品コード 9784842503844
  • NDC分類 501.322
  • Cコード C3053

目次

第1部 残留応力の基礎(応力とひずみ;残留応力の発生・評価・制御;残留応力と強度評価)
第2部 X線応力測定の基礎(結晶材料;X線と回折;多結晶のX線応力測定;X線応力測定の実際)
第3部 X線応力測定法の応用(シンクロトロン放射光による応力測定;中性子回折による応力測定;多相材料・複合材料の応力評価;表面改質・コーティングの応力評価;薄膜の応力評価;接合・溶接材の残留応力評価)
第4部 結晶弾性のマイクロメカニックス(単結晶の弾性変形;単結晶のX線応力測定;多結晶・多相材料の回析弾性定数;繊維配向を有する立法晶多結晶薄膜のX線応力測定)
付録

著者等紹介

田中啓介[タナカケイスケ]
1943年兵庫県生まれ。1966年京都大学工学部機械第2学科卒業。1971年京都大学大学院博士課程単位取得退学、京都大学工学部助手。1972年工学博士、京都大学。1983年京都大学工学部助教授。1991年名古屋大学工学部教授。1997年名古屋大学大学院工学研究科教授

鈴木賢二[スズキケンジ]
1958年宮城県生まれ。1980年新潟大学工学部機械工学科卒業。1982年新潟大学大学院修士課程修了、新潟大学教育学部助手。1985年新潟大学教育学部講師。1989年新潟大学教育学部助教授。1993年博士(工学)、名古屋大学。2004年新潟大学教育人間科学部教授

秋庭義明[アキニワヨシアキ]
1959年山形県生まれ。1982年新潟大学工学部機械工学科卒業、京都セラミックス株式会社入社。1984年京都大学工学研究科修士課程入学。1989年京都大学工学研究科博士課程単位取得退学、九州工業大学工学部講師、工学博士、京都大学。1990年九州工業大学工学部助教授。1992年名古屋大学工学部助教授。1997年名古屋大学大学院工学研究科助教授(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)
※書籍に掲載されている著者及び編者、訳者、監修者、イラストレーターなどの紹介情報です。