土壌環境中の有害元素の挙動―放射光源Ｘ線吸収分光法による分子スケールスペシエーション

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土壌環境中の有害元素の挙動―放射光源Ｘ線吸収分光法による分子スケールスペシエーション

日本土壌肥料学会【編】
価格 ¥3,080（本体¥2,800）
博友社（2012/11発売）
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サイズ B6判／ページ数 169p／高さ 19cm
商品コード 9784826802215
NDC分類 613.58
Cコード C3061

１　土壌元素の分析ツールとしてのシンクロトロン放射光源Ｘ線分光法―特徴・測定方法、将来展望
２　水田土壌の酸化還元過程におけるヒ素と鉄の動態をＸＡＦＳ法で探る
３　ＸＡＮＥＳとＨＰＬＣ‐ＩＣＰ‐ＭＳを用いた水‐土壌系でのヨウ素の挙動解析
４　ＸＡＦＳ法を駆使した土壌中の有害元素の挙動解明
５　射撃場汚染土壌に含まれる鉛の不溶化とＸＡＦＳによる化学状態分析