内容説明
米国特許法の基本。特許法が“何故、そういう制度”なのかという観点から、制度の内容はもちろん、制度の根本をなす原則、考え方を紹介。
目次
米国の法制度と特許法
主な特許関係の訴訟の流れ
米国特許法の基本的考え
発明の特許性
明細書の記載要件
特許商標庁とのやりとり
出願に際しての不衡平な行為（情報開示義務違反等）
特許後の手続き
特許商標庁の行なった手続きに対する訴え
所有権と譲渡
特許侵害
特許侵害に対する抗弁（特許権の不行使）
特許侵害に対する救済、その他
権利の消尽
特許法と州法との関係
ライセンス
ＣＡＦＣの裁判管轄権
著者等紹介
山下弘綱［ヤマシタヒロツナ］
１９７８年３月九州大学工学部造船学科卒業。１９７８年４月特許庁入庁、（１９８２年４月審査官）。１９８６年９月～米国ジョージア工科大学留学（１９８７年８月帰国）。１９８８年１１月～１９８９年３月世界知的財産機関（ＷＩＰＯ）コンサルタント。１９９３年７月～１９９６年６月知的財産研究所ワシントン事務所所長。１９９６年７月～室長、審査長、審判長などを歴任し、２００５年７月退職。２００５年８月～米国フランクリンピアースローセンター（Ｆｒａｎｋｉｎ Ｐｉｅｒｃｅ Ｌａｗ Ｃｅｎｔｅｒ）。現在、ジュリスドクターコース（Ｊｕｒｉｓ Ｄｏｃｔｏｒ Ｃｏｕｒｓｅ）３年生（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）
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