内容説明
本書は、ＳＰＭ（走査プローブ顕微鏡法）の先端手法を用い、「ナノスケールの局所領域や局所構造の各種分光を行う際に必要となる技術の詳細」を、基礎からわかりやすくまとめた本である。
目次
プローブ顕微鏡と局所分光の基礎
電子分光
力学的分光
光学的分光
発展的応用分光
局所分光の実践例
著者等紹介
重川秀実［シゲカワヒデミ］
東京大学大学院工学系研究科物理工学専攻博士課程中退、工博。筑波大学大学院数理物質科学研究科電子物理工学専攻教授
吉村雅満［ヨシムラマサミチ］
東京大学大学院工学系研究科物理工学専攻博士課程中退、博士（工学）。豊田工業大学大学院工学研究科極限材料専攻助教授
坂田亮［サカタマコト］
慶應義塾大学旧制大学院（文部省特別研究生）修了、工博。慶應義塾大学理工学部教授を経て、在慶應義塾大学名誉教授
河津璋［カワズアキラ］
東京大学工学部応用物理学科卒、工博。東京大学大学院研究科教授を経て、東京理科大学教授（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）
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