日本の美術 〈ｎｏ．４２２〉 遺跡の探査 西村康

東京国立博物館/京都国立博物館

至文堂（2001/07発売）

• サイズ B5変判／ページ数 98p／高さ 23cm
• 商品コード 9784784334223
• NDC分類 702.1
• Cコード C9472

出版社内容情報

日本の美術422　遺跡の探査　
西村　康　著　98頁　B5変　税込価格１６５０円

【主要目次】
・はじめに
・探査の歴史
・探査の実際ー電気探査
・探査の実際ー磁気探査
・探査の実際ー地中レーダー探査
・その他の探査
・遺跡における探査の例
・海外での探査

・特別寄稿　文化財建造物の超音波探査　足立和成