目次
第１編 ＴＳＣの基礎（ＴＳＣとは）
第２編 ＴＳＣの応用例（半導体材料とデバイス評価；有機半導体デバイスのＴＳＣとトラップ評価；電気光学（ＥＯ）高分子材料のＴＳＣ
電気絶縁材料
生体材料
耐環境材料―ワイドギャップ化合物半導体における粒子線照射損傷とＴＳＣによる欠陥準位の評価
強誘電体とイオン伝導性セラミックス材料のＴＳＣ）
第３編 ＴＳＣ測定・解析技術と標準化（測定装置；解析技術の展開；ＴＳＣの標準化）
著者等紹介
岩本光正［イワモトミツマサ］
東京工業大学大学院理工学研究科電子物理工学専攻、教授（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）
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