材料学シリーズ<br> 電子線ナノイメージング―高分解能TEMとSTEMによる可視化

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材料学シリーズ
電子線ナノイメージング―高分解能TEMとSTEMによる可視化

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  • サイズ A5判/ページ数 247p/高さ 21cm
  • 商品コード 9784753656363
  • NDC分類 549.97
  • Cコード C3042

目次

第1部 ナノの世界と透過電子顕微鏡法(ナノの世界を見る;透過電子顕微鏡の構造と結像;透過電子顕微鏡の分解能と像コントラスト ほか)
第2部 原子直視を可能とする走査透過電子顕微鏡法(走査透過電子顕微鏡法とは何か;走査透過電子顕微鏡の結像;走査透過電子顕微鏡法の応用例 ほか)
補遺(フーリエ変換入門―イメージングの数学的基礎;凸レンズによる結像作用―凸レンズは位相変調器;電子顕微鏡のレンズ伝達関数―位相コントラストを理解する鍵 ほか)

著者等紹介

田中信夫[タナカノブオ]
1949年名古屋に生まれる。1978年名古屋大学大学院工学研究科博士課程修了。1978年日本学術振興会奨励研究員。1979年豊田理化学研究所研究員。1979年名古屋大学工学部助手。1983年米国アリゾナ州立大学理学部研究員。1990年名古屋大学工学部応用物理学科助教授。1999年同教授。2002年名古屋大学理工科学総合研究センター教授。2006年名古屋大学エコトピア科学研究所教授。現在にいたる。工学博士(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)
※書籍に掲載されている著者及び編者、訳者、監修者、イラストレーターなどの紹介情報です。