内容説明
表面分析法を理解するためには、基本となる電子、Ｘ線、イオン、探針と固体表面との相互作用を理解することが重要である。本書では、この相互作用を基礎から説明して、それが、どのようにしてそれぞれの表面分析法に応用されているのかをできるだけ平易に解説したものである。
目次
１ はじめに
２ 電子と固体の相互作用を利用した表面分析法
３ Ｘ線と固体の相互作用を利用した表面分析法
４ イオンと固体の相互作用を利用した表面分析法
５ 探針の変位を利用した表面分析法
付録（原子の構造；データ処理；構造因子とフーリエ変換）
著者等紹介
吉原一紘［ヨシハラカズヒロ］
１９６６年東京大学工学部卒。１９７１年東京大学大学院工学系研究科博士課程修了、工学博士。１９７１年東京大学工学部助手。１９７３年科学技術庁金属材料技術研究所研究員。１９９９年同研究所極限場研究センター長。２００１年独立行政法人物質・材料研究機構ナノマテリアル研究所長。２００２年同機構材料研究所長
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感想・レビュー
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中年サラリーマン
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表面分析に関する専門書。SIMMS、EPMA、オージェ、STM、AFMなどの原理や装置の説明などの解析がコンパクトにまとまっており分析に関する知識をざっと頭に入れるのにちょうどいい。巻末に量子数の初歩や関数を使ったスペクトルのデータ処理に関しても載っている。2014/06/05
