内容説明
「総論」では概要、各手法の特徴と使い分けについて、「方法論」でPIXEや全反射蛍光X線などの先端的内容を、「応用編」は薄膜・半導体やユニークな物質への応用例を紹介するなど、全編を通してX線分析の最前線の情報を網羅した。分析技術者、材料研究者ばかりでなく、先進材料の現場においても必携の書。
目次
総論(新たな発展期を迎えたX線分析;X線分析の特徴と使い分け―なぜX線分析を使うのか)
方法論(全反射蛍光X線分析;蛍光X線の干渉現象;X線回折分析 ほか)
応用編(半導体材料とX線分析;金属・無機材料とX線分析;有機・高分子材料とX線分析 ほか)