内容説明
半導体デバイス評価を学ぶならこの一冊で十分。評価フェーズごとの詳細な解説！知りたい情報が詰まってる。
目次
第１章 半導体デバイスの特徴
第２章 デバイス評価技術概要
第３章 信頼性試験
第４章 故障解析
第５章 寿命データ解析
第６章 具体例・応用事例
著者等紹介
二川清［ニカワキヨシ］
１９７４年大阪大学大学院基礎工学研究科修士課程修了。日本電気株式会社（ＮＥＣ）入社（～２００９年）。１９９０年デバイス評価技術研究所主管研究員など歴任。２００７年金沢工業大学大学院客員教授（～現在）。２０１０年大阪大学大学院特任教授（～２０１２年）（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）
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