表面分析技術選書 透過電子顕微鏡 （第２版）

日本表面真空学会【編】

丸善出版（2026/01発売）

• サイズ A5判／ページ数 222p／高さ 21cm
• 商品コード 9784621312773
• NDC分類 549.97
• Cコード C3342

出版社内容情報

分かりやすく・実際的で役に立つ、透過電子顕微鏡（TEM）のテキストの改訂版。
1999年刊行の初版『表面分析技術選書 透過型電子顕微鏡』出版以降に見られた結像装置や観察モードの進歩を踏まえ、内容を全面的に刷新。三次元観察や、試料からの電子線励起X線の分光技術（EDX、EDS）や、透過電子のエネルギー損失分光（EELS）についての記述も拡充した。


【目次】

1　はじめに
2　透過電子顕微鏡の構造
3　透過電子顕微鏡の観察法
4　走査透過電子顕微鏡の観察法
5　電子回折
6　透過電子顕微鏡による微小部分析法

目次

１　はじめに（田中信夫）
２　透過電子顕微鏡の構造（森下茂幸）（序論；電子源；真空排気系；電子光学；試料ホルダー；検出器；システム制御とネットワーク）
３　透過電子顕微鏡の観察法（幾原雄一）（序論；薄膜試料の作製法；明視野・暗視野像の観察；高分解能電子顕微鏡像の観察）
４　走査透過電子顕微鏡の観察法（木本浩司）（走査透過電子顕微鏡法とは；それぞれのＳＴＥＭ像の観察手法；空間分解能を決定する因子；観察例；シミュレーション）
５　電子回折（津田健治）（結晶学の基礎的事項；回折条件と運動学的回折；回折図形の撮影と指数付け；菊池図形；不完全結晶からの回折図形；動力学的回折と異常吸収効果；収束電子回折）
６　透過電子顕微鏡による微小部分析法（渡辺万三志）（はじめに―顕微法から分光法へ；Ｘ線エネルギー分散分光法；電子線エネルギー損失分光法；分光法を用いた結像―マッピング；分光分析の空間分解能；分光分析の検出感度；おわりに）